场发射透射电子显微镜（Tecnai G2 F30）

场发射透射电子显微镜（Tecnai G2 F30）

性能指标及功能：

技术指标

1、发射枪：肖特基场发射枪(FEG)

2、点分辨率：0.205 nm

3、线分辨率：0.102 nm

4、信息分辨率：0.14 nm

5、STEM-HAADF分辨率：0.17 nm

6、物镜球差系数：1.2 mm

7、倾转角：±45°

主要功能

1、电子衍射和衍衬分析

2、高分辨电子显微成像(HRTEM)

3、扫描透射成像（STEM）

4、X射线能量色散谱(EDS)分析

5、电子能量损失谱(EELS)及能量过滤像(EFTEM)技术

6、电子三维重构(Tomography)

主要特点：

Tecnai G2 F30场发射透射电子显微镜因其强大的功能而应用广泛，主要包括材料科学、能源环境科学、冶金工程、化学工程和生物医药等学科领域，以及先进能源、先进制造、电子封装、生物医药、先进纳米材料等应用技术领域，可以应用于金属、非金属、陶瓷、矿物和半导体等材料。透射电镜不仅能进行基本的精细结构分析，而且还能进行定量、定性成分分析，是一种科学研究和工业生产必不可少的实验仪器。